太陽電池やLED高輝度化、シリコン・フォトニクスや表面プラズモン等に興味がある方は、是非ともご来場頂き、応用事例のデモをご覧ください。
日本アールソフトデザイングループ株式会社では、9月14日（火）から17日（金）まで長崎大学文教キャンパスで開催される理化学・計測機材展において、最新のナノフォトニクス関連シミュレーション・ソフトウェアを事例デモと共に紹介いたします。 RSoft社の下記ソフトウェアについて、その応用事例を紹介いたします。 ・FullWAVE：FDTD法による微小光学素子設計・解析ソフトウェア ・DiffractMOD：RCWA法による回折光学素子設計・解析ソフトウェア ・FemSIM：有限要素法ベースのモード・ソルバ ・BandSOLVE：平面波展開法によるバンドギャップ計算ツール ・BeamPROP：双方向BPM法による光ファイバ・導波路設計・解析ソフトウェア ・ModePROP：全ての反射光を含む定常解析を高速に行うソフトウェア ・GratingMOD：グレーティング・デバイスの設計・解析ソフトウェア ・MOST：パラメータ最適化およびスキャン解析ツール ・Solar-Cell Utility：太陽光発電デバイスの形状・材料を評価する為の設計ツール ・Tapered Laser Utility：テーパー・レーザ・ダイオードを解析し且つ最適化するため設計ツール 上記RSoft社のソフトウェアは、全て同一のCAD環境で利用でき、同一の構造に対する解析手法の変更が大変簡単になっています。最近のナノフォトニクスの様に、複雑なナノ構造に対する解析には、適当な計算手法を効率的に選択できることが大変重要になってきています。この点、統合されたCAD環境で各種ソルバが選択できるRSoft社設計・解析ソフトウェアの有効性が非常に高まって来ています。このハイブリッド解析環境を事例デモと共に紹介いたします。 皆様のお越しをお待ちいたしております。 ■ 理化学・計測機材展概要 開催日時：2010年9月14日（火）から16日（木） 10：00 - 17：30 9月17日（金） 10：00 - 13：00 開催会場：長崎大学 文教キャンパス 総合体育館 弊社ブース番号：3 - 13 http://www.jsap.or.jp/activities/annualmeetings/index.html 【本件に関するお問い合わせ先】 日本アールソフトデザイングループ株式会社 営業部 担当：赤木 〒105-0014 東京都港区芝1-9-6 マツラビル2F TEL:03-5484-6670 FAX:03-5484-2288
日本アールソフトデザイングループ株式会社では、9月14日（火）から17日（金）まで長崎大学文教キャンパスで開催される理化学・計測機材展において、最新のナノフォトニクス関連シミュレーション・ソフトウェアを事例デモと共に紹介いたします。